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  • NH-3MAs日本mitakakohki半導(dǎo)非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
    NH-3MAs日本mitakakohki半導(dǎo)非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

    日本mitakakohki半導(dǎo)非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)NH-3MAs 配備NH系列的所有基本形狀測(cè)量功能,可以使用專用軟件一次性測(cè)量透鏡和模具的橫截面形狀,并測(cè)量曲率和中心坐標(biāo)。

    更新時(shí)間:2024-08-24
  • MLP-3日本mitakakohki半導(dǎo)體全周長(zhǎng)三維測(cè)量?jī)x
    MLP-3日本mitakakohki半導(dǎo)體全周長(zhǎng)三維測(cè)量?jī)x

    日本mitakakohki半導(dǎo)體全周長(zhǎng)三維測(cè)量?jī)xMLP-3 非接觸式全的方位輪廓測(cè)量:MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、投影儀和激光顯微鏡無(wú)法實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜測(cè)量。點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探頭和每個(gè)軸的控制(包括旋轉(zhuǎn))解決了困擾測(cè)量人員的問(wèn)題。

    更新時(shí)間:2024-08-24
  • VUM-3500日本orc半導(dǎo)體UV照射器
    VUM-3500日本orc半導(dǎo)體UV照射器

    日本orc半導(dǎo)體UV照射器VUM-3500 用途:消除閃存和其他非易失性存儲(chǔ)器、圖像傳感器等的電荷和數(shù)據(jù) 特長(zhǎng) -采用最的適合去除電荷的254nm波長(zhǎng)。 -因?yàn)槭菃我徊ㄩL(zhǎng)可使低溫處理成為可能。 -采用低入射角UV光,可以有效到達(dá)對(duì)象區(qū)域。 -降低了LSI的不良率?提高了信賴性。

    更新時(shí)間:2024-08-24
  • PPS-8200p1/8300p1日本orc半導(dǎo)體光刻機(jī)
    PPS-8200p1/8300p1日本orc半導(dǎo)體光刻機(jī)

    日本orc半導(dǎo)體光刻機(jī) PPS-8200p1/8300p1 用途:支持各種應(yīng)用 特長(zhǎng) -寬頻譜光刻 (與菜單連動(dòng)的 ghi線 gh線, i線的自動(dòng)切換) -搭載可變NA功能 (可變?yōu)?.16和0.1) -最多8Field的拼接設(shè)計(jì)格式 -光學(xué)系統(tǒng)不受感光材揮發(fā)氣體和周圍環(huán)境中化學(xué)物質(zhì)影響

    更新時(shí)間:2024-08-24
  • MT-80SP日本microtec半導(dǎo)體絲網(wǎng)印刷機(jī)
    MT-80SP日本microtec半導(dǎo)體絲網(wǎng)印刷機(jī)

    日本microtec半導(dǎo)體絲網(wǎng)印刷機(jī) MT-80SP 對(duì)應(yīng)了各類硅片尺寸的承載盒對(duì)承載盒型的全自動(dòng)硅片用絲網(wǎng)印刷機(jī)。 設(shè)備結(jié)構(gòu)為:將承載盒(對(duì)應(yīng)各類規(guī)格)裝載至上料部,通過(guò)水平搬送機(jī)械臂自動(dòng)取出后,進(jìn)行預(yù)對(duì)位(缺口檢測(cè))并印刷,之后再次收納至承載盒??筛呔热詣?dòng)地進(jìn)行焊接凸點(diǎn)及聚乙烯覆蓋等的印刷??蛇x裝進(jìn)行FFU的設(shè)置。

    更新時(shí)間:2024-08-24
  • YS05T日本 microscope3個(gè)同時(shí)視野 變焦顯微鏡
    YS05T日本 microscope3個(gè)同時(shí)視野 變焦顯微鏡

    日本 microscope3個(gè)同時(shí)視野 變焦顯微鏡YS05T 無(wú)需切換光路,3個(gè)同時(shí)視場(chǎng),配備Ultra C接口 1.配備 1 個(gè) C 接口的鏡筒,非常適合連接數(shù)碼相機(jī)和 iPhone。 2.同時(shí)三視新趨勢(shì) 3.標(biāo)準(zhǔn) Ultra C 安裝座,具有齊焦/軸調(diào)節(jié)功能 4.總放大倍率為 6.7 倍至 45 倍的變焦體視顯微鏡

    更新時(shí)間:2024-08-23
  • MyDesk Zunta 2日本 microscope雙目變倍體視顯微鏡
    MyDesk Zunta 2日本 microscope雙目變倍體視顯微鏡

    日本 microscope雙目變倍體視顯微鏡MyDesk Zunta 2 總放大倍數(shù)7x~45x 支架臂型(還包括標(biāo)準(zhǔn)桿架) 照明帶 LED 環(huán)形照明和電池供電

    更新時(shí)間:2024-08-23
  • 6020日本nykk在線露點(diǎn)儀
    6020日本nykk在線露點(diǎn)儀

    日本nykk在線露點(diǎn)儀6020 由于新軟件的開(kāi)發(fā),露點(diǎn)計(jì) 6020 具有高度的靈活性和各種可自由配置的菜單驅(qū)動(dòng)選項(xiàng),允許在各種應(yīng)用中連續(xù)監(jiān)測(cè)露點(diǎn)測(cè)量,從高純氣體到該露點(diǎn)計(jì)適用于干燥空氣、天然氣等。此外,內(nèi)置微處理器可進(jìn)行精確的校準(zhǔn)調(diào)整,傳感器檢測(cè)部分提供出色的靈敏度、重復(fù)性和響應(yīng)速度,使其成為高度可靠的露點(diǎn)計(jì)。

    更新時(shí)間:2024-08-23
  • SADPmini日本nykk 便攜式露點(diǎn)儀
    SADPmini日本nykk 便攜式露點(diǎn)儀

    日本nykk 便攜式露點(diǎn)儀SADPmini 帶 PPM 和 PPB 顯示的便攜式露點(diǎn)計(jì) 最新的便攜式露點(diǎn)儀 SADPmini 可讓您快速輕松地測(cè)量氣體和干燥空氣中的水分(露點(diǎn))。 測(cè)量頭與傳統(tǒng)SHAW露點(diǎn)儀/SADP型一樣,配備自動(dòng)干燥室,測(cè)量完成后使傳感器保持干燥狀態(tài)并處于待機(jī)狀態(tài),以便隨時(shí)進(jìn)行露點(diǎn)測(cè)量。

    更新時(shí)間:2024-08-23
  • AD-1671日本 aandd天平隔振臺(tái)
    AD-1671日本 aandd天平隔振臺(tái)

    日本 aandd天平隔振臺(tái)AD-1671 在有振動(dòng)的環(huán)境中使用分析電子天平時(shí),我們建議使用隔振臺(tái)。 ?機(jī)身尺寸:460mm x 400mm x 71mm ?體重:約27公斤 ?負(fù)載能力:約40公斤 ?材質(zhì):天然花崗巖 ?注意: 不可能完的全消除所有振動(dòng)。

    更新時(shí)間:2024-08-22
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