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更新時間：2024-08-26
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更新時間：2024-08-26
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更新時間：2024-08-26
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更新時間：2024-08-26
日本mitakakohki半導非接觸式三坐標測量機NH-3MAs 配備NH系列的所有基本形狀測量功能，可以使用專用軟件一次性測量透鏡和模具的橫截面形狀，并測量曲率和中心坐標。
更新時間：2024-08-24
日本mitakakohki半導體全周長三維測量儀MLP-3 非接觸式全的方位輪廓測量：MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復雜測量。點自動對焦探頭和每個軸的控制（包括旋轉）解決了困擾測量人員的問題。
更新時間：2024-08-24
日本orc半導體UV照射器VUM-3500 用途：消除閃存和其他非易失性存儲器、圖像傳感器等的電荷和數(shù)據(jù) 特長 -采用最的適合去除電荷的254nm波長。 -因為是單一波長可使低溫處理成為可能。 -采用低入射角UV光，可以有效到達對象區(qū)域。 -降低了LSI的不良率?提高了信賴性。
更新時間：2024-08-24
日本orc半導體光刻機 PPS-8200p1/8300p1 用途：支持各種應用 特長 -寬頻譜光刻 (與菜單連動的 ghi線 gh線, i線的自動切換) -搭載可變NA功能 (可變?yōu)?.16和0.1) -最多8Field的拼接設計格式 -光學系統(tǒng)不受感光材揮發(fā)氣體和周圍環(huán)境中化學物質影響
更新時間：2024-08-24
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更新時間：2024-08-24
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更新時間：2024-08-24
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