欧美亚洲一区二区色-亚洲欧美韩国一区二区-中出内射亚洲精品-久久人妻欧美一区二区-欧美一级二级三级蜜桃

技術文章/ article

您的位置:首頁  -  技術文章  -  日本mitakakohki半導體非接觸式三維測量裝置NH-3SPs的介紹

日本mitakakohki半導體非接觸式三維測量裝置NH-3SPs的介紹

更新時間:2024-08-24      瀏覽次數(shù):195

日本mitakakohki半導體非接觸式三維測量裝置NH-3SPs的介紹

1.jpg

可處理大型工件的

非接觸式3D測量裝置

NH系列實現(xiàn)了高精度和易用性,

解決了過去的測量問題。


?可在不損壞測量對象的情況下進行測量

?擅長測量陡峭的斜坡和大的凹凸不平

?直接測量鏡面和透鏡等透明物體

特征

1.非接觸式測量可防止探頭磨損

由于不存在非接觸式探頭磨損等連續(xù)變化,因此日常維護也更加容易。

2.可觀察測量點

始終可以觀察到測量點和工件表面的激光光斑。圖像處理可實現(xiàn)邊緣檢測和圓測量。

3.高精度、高剛性XY平臺

NH系列XY平臺基于“高精度識別=堅固機構"的理念,經(jīng)過精心加工和一一檢驗,實現(xiàn)高精度運行平行度。

4.出色的角度跟蹤

高靈敏度自動對焦傳感器可捕獲表面的輕微反射光。能夠直接精確測量陡坡和臺階。


產(chǎn)品中心
儀器
推薦產(chǎn)品

CONTACT

EMAIL:jiuzhou_dr@163.com
掃碼微信聯(lián)系
版權所有©2024 深圳九州工業(yè)品有限公司 All Rights Reserved   備案號:粵ICP備2023038974號   sitemap.xml技術支持:化工儀器網(wǎng)   管理登陸